(TEM 樣品) 汲取製備系統

聚焦離子束顯微系統之微米樣品(TEM 樣品) 汲取製備系統


OLYMPUS BX51M Base

  • 經濟型
  • 樣品台升降
  • 10X,20X,50X 長工作焦距接物鏡
  • 標準化工作檯面
  • USB介面,CCD影像處理系統含軟體
  • 含電腦與平面顯示器

NIKON FN1 Base

  • 經濟型
  • 樣品台升降
  • 10X,20X,50X 長工作焦距接物鏡
  • 標準化工作檯面
  • USB介面,CCD影像處理系統含軟體
  • 含電腦與平面顯示器

NIKON FN1 垂直更換接物鏡,超長工作距離,大幅降低撞針機率

配件:

拉針系統

 

燒針系統