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 PSECE 2019 菲律賓與您相見!

Philippine Semiconductor & Electronics Convention & Exhibition (PSECE 2019)

日期

2019/05/30  08:00 - 2019/06/01 17:00

地點

Philippines / Booth 39, Hall 1 | SMX Convention Center, Pasay City, Manila

官網圖片

http://www.seipi.org.ph/

2018.12 Technoorg Linda Unimill 进驻中国计量大学

2018年12月 Technoorg Linda离子减薄仪 Unimill 正式入驻杭州的中国计量大学。

中国计量大学是一所由浙江省人民政府举办的中国质量监督检验检疫行业唯一的本科院校,也是国际上唯一一所以计量命名的本科院校,是一所计量标准质量检验检疫特色鲜明、多学科协调发展的省属学校。

Unimill 01

离子减薄仪 Ion milling 来自匈牙利领导品牌 Technoorg Linda,全自动离子减薄仪Unimill针对TEM / XTEM样品前制备,机台特色:穿透减薄+表面清洁一机两用,快速自动样品交换系统。

此次针对客户陶瓷样品做样品前制备培训,经过Unimill离子减薄后能够在TEM机台中清楚看到陶瓷晶格原貌,进一步提高质量检测成效。

此次培训课程内容:

  • TEM样品前制备流程介绍
  • 样品前制备-精密切割Microsaw教学
  • 样品前制备-精密切割Microheat教学
  • 样品前制备-精密切割Micropol教学
  • 高能量枪High energy gun 安装拆卸教学

培训过程中,从TEM样品前制备的重要性开端,切入样品制备流程与注意要点做讲解,接着Unimill机台操作教学,完成陶瓷样品制备。边讲解流程并让同学观察、实际操作加深印象,若有不懂之处也可以共同讨论。

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经过这几天教育训练课程让客户熟悉机台操作与应用,于杭州行完美落幕。

2018.12 Technoorg Linda Unimill 進駐中國計量大學

Technoorg Linda Unimill進駐中國計量大學

2018年12月 Technoorg Linda Unimill正式入駐杭州的中國計量大學。

中國計量大學是一所由浙江省人民政府舉辦的中國品質監督檢驗檢疫行業唯一的本科院校,也是國際上唯一一所以計量命名的本科院校,是一所計量標準品質檢驗檢疫特色鮮明、多學科協調發展的省屬學校。

 

Unimill 01

離子減薄儀 Ion milling 來自匈牙利領導品牌 Technoorg Linda,全自動離子減薄儀Unimill針對TEM / XTEM樣品前製備,機台特色:穿透減薄+表面清潔一機兩用,快速自動樣品交換系統。

此次針對客戶陶瓷樣品做樣品前製備培訓,經過Unimill離子減薄後能夠在TEM機台中清楚看到陶瓷晶格原貌,進一步提高品質檢測成效。

 此次培訓課程內容:

  • TEM樣品前製備流程介紹
  • 樣品前製備-精密切割Microsaw教學
  • 樣品前製備-精密切割Microheat教學
  • 樣品前製備-精密切割Micropol教學
  • 高能量槍High energy gun 安裝拆卸教學

培訓過程中,從TEM樣品前製備的重要性開端,切入樣品製備流程與注意要點做講解,接著Unimill機台操作教學,完成陶瓷樣品製備。邊講解流程並讓同學觀察、實際操作加深印象,若有不懂之處也可以共同討論。

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經過這幾天教育訓練課程讓客戶熟悉機台操作與應用,於杭州行完美落幕。

2019 TPCA SHOW 10月23日~10月25日

2019 TPCA SHOW invitation

2019年10月23日(三) 10:00-17:00
2019年10月24日(四) 10:00-17:00
2019年10月25日(五) 10:00-16:00

2019 TPCA SHOW October 23th ~October 25th

2019 TPCA SHOW invitation en

Wednesday, October 23, 2019 10:00am - 5:00pm

Thursday, October 24, 2019 10:00am - 5:00pm

Friday, October 25, 2019 10:00am - 4:00pm

1st Floor, Hall 1, Nangang International Exhibition Hall, Taipei City, Taiwan

2019 SEMICON Taiwan Review

SEMICON Taiwan was held on Sep. 18- Sep. 20 in the Taipei Nangang Exhibition Center, it is the premier event in Taiwan for microelectronics manufacturing. Connect with the companies, people, products and information shaping the future of design and manufacturing for semiconductors, nanoelectronics, MEMS, Photovoltaics and related advanced electronics.

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Thank you very much for coming to our exhibition booth, we will continue to provide you with better products and services.

See you next year !

2019 SEMICON Taiwan 精彩回顧

9/18-9/20 於南港展覽館一館舉行2019 Semicon Taiwan ,為全台一年一度最大之半導體展,展會期間我們與客戶分享與討論SEM 和 Ion milling 相關資訊,在此圓滿落幕,明年期待與您再相見!

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2019 TPCA Show Review

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The 20th TPCA Show 2019 and the 14th IMPACT-IAAC and ICFPE has held at the Taipei Nangang Exhibition on October 23rd to 25th.Thank you very much for coming to our exhibition booth, we will continue to provide you with better products and services.

See you next year !

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2019 TPCA Show 精彩回顧

TPCA Show 2019 logo new 01  

10/23-10/25 於南港展覽館一館舉行2019 TPCA Show,聚集全台PCB各方面精密儀器,於上週五圓滿落幕了,明年期待再與您相見!

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2019.11.22 表面技術研討會 開始報名囉!

201911研討會邀卡

報名表單連結:

https://www.surveycake.com/s/QpPoA

下載

若有任何問題請電洽 02-22180148  唐小姐 或 mail : Email住址會使用灌水程式保護機制。你需要啟動Javascript才能觀看它

2019表面分析技術研討會精彩回顧

博精研討會banner

由博精儀器主辦之表面分析技術研討會,於11/22(五)盛大展開!

我們特別請到專業的講師,透過分享最新表面儀器的技術與應用,提供與會者未來更多研究的可行性;

中場時間備有精美茶點,提供與會者彼此互相認識交流,

最後再次感謝大家踴躍參與,讓研討會完美畫下句點!

2019表面技術分析回顧01   2019表面技術分析回顧02

2019高雄自動化展 精彩回顧

2019 LGOG

經濟日報主辦的「2019高雄自動化工業展」於4/1(一)完美劃下句點,感謝舊雨新知前來交流分享新資訊,未來我們希望能為南臺灣的客戶提供更多實驗室環境改善解決方案與實驗室儀器設備,致力提高彼此的連結。

 SEM PhenomProx

 SEM PhenomProx 02

 SEM PhenomProx 04

 Ionmilling

2019 高雄自動化展 圓滿落幕! 

PIE Scientific 桌上型等離子清洗機

 Tergeo Plus plasma cleaner s            Tergeo EM version2 s

用途

 

適用於等離子體清洗,蝕刻,表面處理

特徵描述 

1.低成本的高性能實驗室等離子體清潔機建立在勞倫斯伯克利國家實驗室的離子體和離子源技術組

 織開發的技術基礎上

2.獨特的專利等離子體感測器技術,用於定量等離子體強度測量。

  定量資料是在科學實驗和工業生產應用中實現可重複和一致結果的關鍵。

3.在一個系統中直接浸漬模式等離子體清洗和下游模式等離子體清洗。 用於各種等離子體蝕刻,清

  潔和表面處理應用的多功能系統。

4.直觀的觸控式螢幕使用者介面,全自動操作和先進的程序控制技術,如等離子體感測器,數位壓力傳感

 器和自動MFC調節氣體流量控制。 一旦配方優化,不同使用者或不同日子的流程變化。 它支持20

 個可定制的配方。

 

相關產品:

遠端等離子icon

PIE Scientific 遠程等離子清洗機

                       Plasma02        EM KLEEN Controller small                      

用於SEM,FIB,XPS,ALD,EUVL等高真空室的遠程等離子體清洗機。

產品描述 

由PIE Scientific開發的SmartClean™技術結合了最先進的等離子體放電技術在核研究和半導體行業。我們的等離子體清潔機可以根據任何規格打敗競爭對手。 此外,我們的產品僅提供許多獨特的功能。

 

應用領域

1.    FE-SEM,FIB和TEM的原位樣品清洗。

2.    半導體設備去除污染,如CD-SEM、EBR、EBI、EUVL。

3.    高真空室清潔,以清除電子顯微鏡,XPS,AES系統上的碳氫化合物污染物。

4.    XPS、SIMS和 AES的樣品清洗。

5.    對ALD在有機溶劑清洗後,進行樣品清洗。

  

相關產品

桌上型等離子icon

 

PSECE 2019 Review

PSECE LOGO

PSECE 2019 is held on May 30th - June 1st in the Philippines. It’s the annual event of the semiconductor industry of Philippines, bringing the world's top semiconductor technology manufacturers together, providing much exposure platform for overseas manufacturers.

Thank you very much for coming to our exhibition booth, we will continue to provide you with better products and services.

 

PSECE review

PSECE 2019 精彩回顧

PSECE LOGO

 

 5月30日 - 6月1日在菲律賓舉行 PSECE 2019,為菲律賓半導體產業的年度盛事,匯集世界頂尖半導體科技廠商參與,提供海外廠家優質的曝光平台。藉此機會與當地廠商產生更多的連結,未來能推動Spicer Consulting 主動式消磁器、Herz 主動式防震台、Technoorg Linda 離子研磨機和Mel-build 特製TEM樣品台更廣泛的應用領域。

PSECE review

SEM如何幫助研究聚合物的特性、性質和用途

標題

大標

聚合物具有多種用途和應用:單體的工程組合產生近乎無限數量不同特性的分子,這些特性由分子的化學組成和結構決定。分子的組成對聚合物受到不同外力作用下的行為具有很大的影響。下面文章中,您將透過實例了解掃描式電子顯微鏡(SEM)提供超出預期的結果。

通過SEM了解熱塑性聚合物的特性及探討其性質

首先,我將著重在掃描式電子顯微鏡SEM會提供哪些熱塑性聚合物的信息。

熱塑性聚合物具有線性的化學結構,與分子通過弱相互作用結合在一起。當聚合物被加熱時,很容易斷裂,將導致材料變形;而熱塑性聚合物則具有良好的耐高溫特性,並且具有高化學慣惰性和耐磨性。

 

SEM image meltblown fiber

圖1:熔噴纖維的SEM圖像。在此放大倍率下,很容易測量纖維的直徑。

 

舉例說明熱塑性聚合物的應用,它們廣泛用於纖維、電氣和電子零件,包裝薄膜的生產,也用於日用物品,例如防烤箱廚具。掃描式電子顯微鏡SEM可用於研究它們的性能和質量,也可用於改進工藝研究不同的應力如何影響這些材料。

 

聚合物性質:SEM能告訴我聚合物的哪些訊息?

進行磨損測試後,仔細觀察聚合物表面可以顯示施加到材料上的應力的真實的結果,為生產鏈的末端進一步開發材料或進行質量控制提供更多可能。

在這種情況下,通過立體重建或陰影的形狀進行粗糙度分析是一項有趣的技術,幫助研究人員測量材料上划痕的深度。

 

SEM image wax

圖2:蠟的SEM圖像。 使用SEM和EDS來研究顆粒在聚合物中的分佈和組成。

 

SEM image semiconductor

圖3:用SEM觀察半導體零件很容易檢測到生產過程中的缺陷。

 

在高倍率拍攝的圖片中可以非常精確地測量纖維和顆粒的直徑。這些分析結果提供不同種類的信息,從流體動力學特性,到可以在過濾器中捕獲的最大粒徑,再到粉末如何較好的在溶液中的溶解。

自動化程序來也可用於控制掃描式電子顯微鏡SEM來自動收集樣品圖片並測量重要參數,例如直徑、三維、長寬比或面積。這些結果可輕鬆快速地提供大量數據,節省寶貴的時間,使研究人員可以以更有生產力和效率的進行工作。

 

掃描式電子顯微鏡SEM如何幫助改善3D打印等製造工藝。

掃描式電子顯微鏡SEM也可用於研究新的、趨勢化的製造工藝,例如3D打印技術,聚合物被擠壓和操縱用以建構數位3D繪圖的實體。可以對於影印機的分辨率和質量,以及影印機本身的組件進行量測,以提升3D設備的性能表現。

SEM image 3d printed rabbit

圖4:3D列印兔子的SEM圖像。使用SEM來檢測物體的缺陷。

 

聚合物和EDS

分析薄膜中的顆粒分佈時,了解不同相的組成可以幫助改善分散過程。這種分析可以很容易的透過能量光譜分析(EDX或EDS)進行-----掃描式電子顯微鏡SEM上最常用的微量分析技術。幾秒鐘內,樣品的化學成分將會顯示在螢幕上。

 

如何在電子顯微鏡中觀察聚合物

用電子顯微鏡分析聚合物產生了許多的問題。但是,由於聚合物行業是掃描式電子顯微鏡SEM用戶中最大的群體之一,因此提供許多簡單的解決方案來獲得所需的結果。

例如,掃描式電子顯微鏡SEM在非常高的電壓下將樣品上的電子成像。另一方面,電流強度很小,以避免損壞樣品。最重要的是,觀察樣品時必須處於高真空的密閉環境中。根據樣品材料的化學和物理抗性,可能導致多種分析結果。

主要問題是電子在樣品表面上的積累,也稱為放電效應。此問題可以通過建立一個導電橋梁,連接材料表面到儀器樣品載台接地釋放電子。

另一個比較容易的方式是根據材料規格調整電子顯微鏡中的真空度,使用低真空模式觀看影像。

最後的方式是鍍膜設備,可以用金或其他導電材料的薄層覆蓋樣品材料。這適用於SEM分析,而不會顯著改變樣品的結構。

聚合物通常是非常敏感的材料。電子束會損壞它們,尤其是在施加非常高的電壓時。電子顯微鏡發出的電子可以與與分子結合,相互作用並使它們斷裂。ThermoFisher Phenom SEM提供了低真空選項,這使得可以在不損壞樣品的情況下對樣品成像。

 

 

作者介紹

Luigi Raspolini

Luigi RaspoliniThermo Fisher Scientific Phenom桌上型掃描式電子顯微鏡SEM的應用工程師。Luigi一直在探索新的材料表徵,表面粗糙度測量和成分分析的方式。他熱衷於提升用戶體驗,並提供每種樣本進行成像的最佳方法。

 

原文網址: https://blog.phenom-world.com/polymers-characteristics-research-sem

ThermoFisher在科學領域中與COVID-19戰鬥

主題

面對COVID-19非醫護人員的我們能做什麼?

我們的原廠ThermoFisher Scientific 成立的宗旨為:

「Our Mission is to enable our customers to make the world healthier, cleaner and safer.」

這一次遭遇到COVID-19的疫情,讓我們重新體認到這一使命的重要性。我們有義務幫助確保同事的安全,繼續為客戶提供支持並利用我們的能力來應對這一迅速發展的公共衛生危機。

A history of impact in responding to public health crises

我們正在與政府機構和研究人員合作,以確保優先使用儀器、消耗品、安全用品和其他產品以應對疫情,尤其是在病毒分析、診斷和個人防護方面。

而大眾在日常活動中可以保護自己的方法:

  • 室外保持1公尺以上安全社交距離
  • 室內保持1.5公尺以上安全社交距離
  • 處於擁擠、密閉之場所( Ex: 公車、捷運…大眾交通工具)應配戴口罩

疾管局社交距離

 

針對此次的全球疫情,我們提供客戶優惠的價格表達各領域的技術支持。讓我們一起克服這艱難的時刻!

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Welcome to PSECE 2019, Philippines

Philippine Semiconductor & Electronics Convention & Exhibition(PSECE 2019)

Date

2019/05/30  08:00 - 2019/06/01 17:00

Place

Philippines / Booth 39, Hall 1 | SMX Convention Center, Pasay City, Manila

官網圖片

 

什麼是SEM?淺談掃描式電子顯微鏡技術

標題

主題

掃描式電子顯微鏡已經變成一個材料分析表徵強大而多用途的工具。近年來,由於越來越小尺寸的材料應用在更多的應用上,越顯其重要性。下面文章,我們將解答”什麼是SEM?”以及描述SEM主要的工作原理。

 

什麼是SEM?

SEM是掃描式電子顯微鏡的縮寫。電子顯微鏡使用電子束成像,就如同光學顯微鏡是利用可見光。

SEM使用特定的電子掃描光束,使用被反射或從樣品近表面區域擊落的電子來形成圖像。由於電子的波長遠小於光的波長,因此SEM的分辨率優於光學顯微鏡。

 

市面上電子顯微鏡分為兩種主要類型:

1.透射式電子顯微鏡(TEM),使用電子檢測穿過非常薄的樣本成像。

2.掃描式電子顯微鏡(SEM),它使用被反射或從樣品的近表面區域擊落的電子來產生圖像。

 

SEM技術如何運作?

現在我們將專注於掃描式電子顯微鏡SEM上。SEM技術的示意圖如下方圖1所示。在這種電子顯微鏡中,用電子束掃描樣品。首先,電子藉由燈絲聚焦電子槍頂端產生。當它們的熱能克服了燈絲材料的功函時,就會發出這些光,然後它們被加速並被帶正電的陽極吸引。

anatomy scanning electron micrscope

圖1.典型SEM配件示意圖

 

整個電子槍必須處於真空狀態,像電子顯微鏡的所有組件一樣,電子源也被密封在一個特殊的艙內,以保持真空並保護其免受污染、振動或噪音干擾。儘管真空保護電子源不受污染,但也能讓用戶獲取高分辨率圖像。在沒有真空的情況下,真空柱中可以存在其他原子和分子。它們與電子的相互作用會導致電子束偏轉並降低圖像質量。此外,高真空度提高了真空柱中檢測器對電子的收集效率。

 

如何控制電子路徑?

和光學顯微鏡相似,電子顯微鏡使用透鏡控制電子的路徑。由於電子無法穿過玻璃,此處使用的透鏡是電磁的。他們簡單地由金屬極片的線圈組成,當電流通過線圈時,會產生磁場。隨著電子對磁場非常敏感,它們在顯微鏡電子路徑可通過被這些電磁透鏡控制 – 透過簡單地調整施加給它們的電流。

一般來說,使用兩種類型的電磁透鏡:

聚光透鏡是電子射向樣品的第一個透鏡。該透鏡在電子束錐打開前會聚束,並在撞擊樣品之前被物鏡再次會聚。聚光透鏡確定電子束的大小(確定分辨率),而物鏡的主要作用是將電子束聚焦到樣品上。

掃描電子顯微鏡的透鏡系統還包含掃描線圈,用於將光束光柵化到樣品上。一般情況下,光圈與透鏡組合在一起可以控制光束的大小。典型的SEM儀器的這些主要組件如上方圖1所示。

 

SEM有什麼樣種類的電子?

電子與樣品的相互作用可導致產生許多不同類型的電子、光子或輻射。在SEM的情況下,用於成像的兩種電子是背向散射(BSE)和二次電子(SE)。

背向散射的電子屬於一次電子束,在電子束與樣品之間發生彈性相互作用後被反射回去。另一方面,二次電子起源於樣品的原子:它們是電子束與樣品之間非彈性相互作用的結果。

BSE來自樣品的較深區域(圖2),而SE來自表面區域。 因此,BSE和SE攜帶不同類型的信息。BSE圖像顯示出對原子序數差異的高度敏感性:原子序數越高,圖像中出現的物質越亮。

electrons SEM

圖2:SEM使用的不同類型的信號及其產生的區域

 

SE成像可以提供更詳細的表面信息-您可以在圖3中看到。在許多顯微鏡中,由於電子物質相互作用而產生的X射線檢測也被廣泛用於執行樣品的元素分析。 每種材料都會產生具有特定能量的X射線。 X射線是材料的指紋。 因此,通過檢測成分未知的樣品發出的X射線能量,可以識別其包含的所有不同元素。

BSE SE SEM

圖3:(a)BSE和(b) SE的FeO2顆粒圖像

 

偵測電子的方式?

上述電子的類型由不同類型的檢測器檢測。 為了檢測BSE,將固態檢測器與電子束同心放置在樣品上方,以使BSE收集最大化。另一方面,為了檢測SE,主要使用Everhart-Thornley檢測器。它由法拉第籠內的閃爍體組成,閃爍體用於加速電子並將其轉換為光,然後到達光電倍增器進行放大。 SE檢測器以一定角度放置在電子室的側面,以提高檢測二次電子的效率。這些二次電子用於形成樣品的3D圖像,該圖像在螢幕上顯示。

 

SEM:神奇且精密的儀器

如同上面所敘述,電子必須經歷不同的過程,才能在螢幕顯示圖像,如下方圖4。從電子到成像整個過程幾乎是瞬間完成的,以納秒(10-9秒)為單位。為了獲得高品質的圖像,必須預先計算和精確控制列內電子的每個距離。掃描式電子顯微鏡持續不斷在進步,並且出現新的應用方向,使它們成為不可或缺的儀器。

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圖四、鎢粒子背散射電子的成像

 

選擇最適合您的電子顯微鏡

掃描電子顯微鏡可幫助研究人員優化材料表徵過程並節省寶貴的時間。

您是否正在尋找一種優化研究過程和應用的方法? 您想在更短的時間內進行更好的分析嗎? 為您的研究選擇合適的顯微鏡可以幫助您更有效地工作。

 

 

關於作者

Antonis Nanakoudis

Antonis Nanakoudis是Fisher Scientific Phenom 桌上型電子顯微鏡SEM的應用工程師。他熱衷於SEM在各種應用程序上的功能研發,並持續尋求發掘其表徵方法提供新技術。

 

原文網址: https://blog.phenom-world.com/what-is-sem

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