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Phenom Desktop SEM

P-Series Accessories

 PROX標準樣品杯standard sample holder

標準樣品杯

高解析度樣品杯,每台Phenom電子顯微鏡標準配件。

 

 

 PROX降低荷電效應樣品杯Charge Reduction Sample Holder

降低荷電效應樣品杯

降低荷電效應樣品杯減少樣品充電,消除非導電樣品的額外樣品製備步驟。

可以快速的觀察如紙張,聚合物,有機材料,陶瓷,玻璃和塗料等樣品成像。

 

 

 PROX金相樣品杯Metallurgical Sample Holder

 

金相樣品杯

金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用來裝置金相

樣品,金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備樣品。

 PROX降低荷電效應金相樣品杯charge reduction metallurgical sample holder

 降低荷電效應金相樣品杯

降低荷電效應金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用

來裝置金相樣品,降低荷電效應金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備

樣品。降低電荷效應金相樣品杯相較於金相樣品杯具有額外的降低荷電功能,更適合觀察不導電樣品。

 PROX微型工具樣品杯Micro Tool Sample Holder

 

微型工具樣品杯

使用微型工具樣品杯,無需裁切樣品即可觀察長軸形狀如鑽頭、銑刀和注射針等

樣品。無需重新裝載樣品,通過旋轉和傾斜,即可輕鬆觀看塗層和斷面。

 

 PROX自動傾斜旋轉樣品杯Motorized Tilt Rotation Sample Holder

自動傾斜旋轉樣品杯

自動傾斜旋轉樣品杯能夠更方便的觀看到樣品的隱藏特徵(如孔洞、多層結構)

可見側面做元素分析,同時展現圖特的3D圖像。

 

 PROX控溫樣品杯Temperature Controlled Sample Holder

溫度控制樣品杯

溫度控制樣品杯特別為了研究真空敏感和易損樣品(如生物,食品或有機塗料...)

研發而成。溫度控制樣品杯能夠控製樣品的溫度,從而影響樣品周圍的濕度,

最大限度的降低電子束的影響和真空對樣品的損壞。基於Peltier原理,其設計

可以快速,輕鬆地調節溫度。

ProX斷面觀測X view Insert

斷面觀測樣品座配件

使用金相外掛工具觀察塗層和多層樣品的斷面是非常快和方便的,且

不需要螺絲和其它工具來固定樣品。

ProX微型電子座配件Micro electronics Insert

微型電子樣品座配件

微型電子外掛治具適用於半導體、微型電子器件和太陽能電池等。

用獨特的固定機制,樣品裝載時不需要粘合劑和接觸表面。

微型工具樣品杯

Micro Tool Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX微型工具樣品杯Micro Tool Sample Holder

 

使用微型工具樣品杯,無需裁切樣品即可觀察長軸形狀如鑽頭、銑刀和注射針等樣品。

無需重新裝載樣品,通過旋轉和傾斜,即可輕鬆觀看塗層和斷面。

 

主要特點:

1. 快速固定

2. 透過旋轉及傾斜使樣品容易定位

3. 不需要加裝額外工具

4. 不需要裁切樣品

微型電子樣品座配件

Micro-electronics Insert for Phenom Desktop P-series SEM

ProX微型電子座配件Micro electronics Insert02

 

搭配金相樣品台使用,微型電子樣品座適用於半導體、微型電子器件和太陽能電池等樣品,用獨特的固定機制,樣品裝載時不需要粘合劑和接觸表面。

 

主要特點:

1. 不會損傷及汙染樣品

2. 即時製樣及裝載

斷面觀測樣品座配件

X-view Insert for Phenom Desktop P-series SEM

ProX斷面觀測X view Insert02

搭配金相樣品台使用,觀察塗層和多層樣品的斷面非常快速和方便,且不需要螺絲和其它工具來固定樣品。

 

主要特點:

容易固定,不需要螺絲及其他工具台固定樣品

 

 

標準樣品杯

Standard Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX標準樣品杯standard sample holder

高解析度樣品杯,每台Phenom電子顯微鏡標準配件。

 

樣品尺寸

最大直徑25mm,高度30mm

 

溫度控制樣品杯

Temperature Controlled Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX控溫樣品杯Temperature Controlled Sample Holder

 

溫度控制樣品杯特別為了研究真空敏感和易損樣品(如生物,食品或有機塗料...)研發而成。溫度控制樣品杯能夠控製樣品的溫度,從而影響樣品周圍的濕度,最大限度的降低電子束的影響和真空對樣品的損壞。基於Peltier原理,其設計可以快速,輕鬆地調節溫度。

 

主要特點:

1. 溫度範圍:-25°C至+ 50°C

2. 精確度:±1.5°C

3. 溫度分辨率:0.1°C

4. 最高冷卻速度:20°C / min

5. 樣品尺寸最大直徑 25 mm,高度 5 mm

自動傾斜旋轉樣品杯

Motorized Tilt Rotation Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX自動傾斜旋轉樣品杯Motorized Tilt Rotation Sample Holder

自動傾斜旋轉樣品杯能夠更方便的觀看到樣品的隱藏特徵(如孔洞、多層結構),並從可見側面做元素分析,同時展現圖特的3D圖像。

 

主要特點:

1. 傾斜角度:-10°至+ 45°

2. 旋轉角度:360°同心旋轉

3. 使用Pro Suite應用程式控制

金相樣品杯

Metallurgical Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX金相樣品杯Metallurgical Sample Holder

 

金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用來裝置金相樣品,金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備樣品。

 

樣品尺寸:

最大直徑32mm,高度30mm

降低荷電效應樣品杯

Charge Reduction Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX降低荷電效應樣品杯Charge Reduction Sample Holder

 

降低荷電效應樣品杯減少樣品充電,消除非導電樣品的額外樣品製備步驟。

可以快速的觀察如紙張,聚合物,有機材料,陶瓷,玻璃和塗料等樣品成像。

 

主要特點:

1. 比標準樣品杯多出8倍的放大倍率

2. 樣品不需要額外鍍金/鍍碳,大幅降低額外設備的需求與制備時間

3. 能在原始狀態下觀察樣品,提供豐富的背散射訊息

降低荷電效應金相樣品杯

Charge Reduction Metallurgical Sample Holder for Phenom Desktop P-series SEM

PROX降低荷電效應金相樣品杯charge reduction metallurgical sample holder

 

降低荷電效應金相樣品杯的底座設計與標準樣品杯設計相同,但中間專門設計用來裝置金相樣品,降低荷電效應金相樣品杯可以另外選配兩種配件,更快速製備樣品。降低電荷效應金相樣品杯相較於金相樣品杯具有額外的降低荷電功能,更適合觀察不導電樣品。

 

主要特點:

1. 比標準樣品杯多出8倍的放大倍率

2. 樣品不需要額外鍍金/鍍碳,大幅降低額外設備的需求與制備時間

3. 能在原始狀態下觀察樣品,提供豐富的背散射訊息

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