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ProSuite 軟體

 ProSuite 軟體包能夠使Phenom 電子顯微鏡使用者從拍攝的圖像中獲取大量的訊息,延展了SEM能力,滿足特定用戶的需求。

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孔徑統計分析量測系統

孔徑統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告,使用者能收集詳細的孔徑分布及孔徑參數 (粒徑尺寸、長短軸比…)。

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顆粒統計分析量測系統 

顆粒統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告,使用者能收集詳細的亞顆粒尺寸及粒度數據。

 Mapping03

 

元素分析線面掃描系統 

元素分析線面掃描系統是EID軟體中的選配項,能夠顯示出樣品的元素分布情形。使用者可以針對某個點自行設定像素分辨率與擷取時間後進行元素分析。

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3D粗糙度重建系統 

3D粗糙度重建系統使Phenom 電子顯微鏡能夠建立樣品3D圖像以及亞微米粗糙度量測。

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纖維統計分析量測系統 

相對於以往手動量測數值,纖維統計分析量測系統能快速獲得更精確的數值,效率高,操作簡單,更可以測量和分析具有大纖維直徑差異的樣品。

 

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