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ParticleMetric Software

ParticleMetric

顆粒統計分析量測系統能夠輕易獲得SEM圖像並分析產生報告,使用者能收集詳細的亞顆粒尺寸及粒度數據。軟體的自動量測功能超越了一般金相顯微鏡的放大倍率,使得粉末設計、研發、品質控管邁入新的高度。

主要特點:

  1. 可在線或是離線使用軟體分析
  2. 詳細顆粒的參數(直徑、圓度、長短軸比、凹凸性)
  3. 藉由自動掃描功能獲得高畫質大面積的圖像數據
  4. 具備高級運算法,使用者可選擇原始設定或進階設定

Phenom Software

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