產品特色：

這個獨特的標準樣品可直接追溯至矽的晶格係數，並且適用於所有的穿透式電子顯微鏡（TEM） 標準樣品

主要校正三個項目：

•  倍率校正，適用所有放大倍率

•  相機參數

•  影像 、繞射、旋轉校正