MAG*I*CAL可追溯TEM標準校正樣品 可追溯穿透式電子顯微鏡標準校正樣品 這個獨特的標準樣品可直接追溯至矽的晶格係數,並 且適用於所有的穿透式電子顯微鏡(TEM) 標準樣品主要校正三個項目: • 倍率校正,適用所有放大倍率 • 相機參數 • 影像 、繞射、旋轉校正