可追溯穿透式電子顯微鏡標準校正樣品

這個獨特的標準樣品可直接追溯至矽的晶格係數，並 且適用於所有的穿透式電子顯微鏡（TEM） 標準樣品主要校正三個項目： •  倍率校正，適用所有放大倍率 •  相機參數 •  影像 、繞射、旋轉校正