2023年半導體雖然面臨後疫情時代的市場挑戰，先進製程微縮仍是半導體製造業的發展趨勢，其中電子束微影（Electron Beam Lithography，簡稱EBL）更是具潛力發展的技術之一，其應用範圍包含：微小電子元件、生物芯片、光學元件、量子器件、奈米結構材料、微型機械結構等領域。因此，如何在複雜技術中提高良率以降低成本，解決電磁干擾等環境問題至關重要。
隨著微電子元件、微控制器時代來臨，半導體製程需要更高倍率的成像品質。然而，來自於外部環境如EMI等眾多干擾容易影響解析度，要釐清是否為設備故障問題往往需要耗費大量時間成本。
您也有電磁干擾問題需要解決嗎？眾多消磁器中不知哪一款最適合？Spicer Consulting提供一系列主動式消磁器選擇指引，依不同產業應用層面及場地客製化解決磁場干擾問題。
位於捷克的利貝雷茨技術大學不織布和奈米纖維材料系，在靜電紡絲技術方面擁有超過 6 年的經驗，在其他不織布技術方面，也同樣累積了超過40 年以上的經驗。在豐富經驗累積的條件下，該單位目前已經能…
科技的躍進時代下，樣品觀測不再受光波的波長所局限，電子顯微鏡的發明突破了光學顯微鏡的解析度瓶頸，造就了探索與開啟奈米世界的鑰匙，而粉末微粒便是奈米世界中的小巨人，微小的顆粒卻能影響甚至改變各種物質的變化，其影響領域不只侷限在工業領域（高分子材料），近年來以奈米科技延伸發展…
鋰離子電池在越來越多的應用領域廣泛使用，鋰電池材料分析的主要挑戰在於它們在空氣中非常易起反應。Phenom XL G2氬氣兼容桌上型掃描式電子顯微鏡採用專門技術，是唯一能夠完全放置在充滿氬氣手套箱內的掃描式電子顯微鏡，讓您能夠對對空氣敏感的鋰電池樣品進行研究。
穿透式電子顯微鏡(TEM)中使用的載網(grid，支撐網，或以常用規格鍍碳銅網代稱)，為特殊結構，非常薄，通常在10到100奈米之間，主要用於支撐樣品，使電子能穿透樣品，並幫助樣品定位，同時減少不需要的背景信號。載網有多種圖案和材質可供選擇，其上也可加上不同薄膜/塗層，以適合各種應用。
什麼是場發射電子顯微鏡（FE-SEM）？FE-SEM跟傳統掃描式電子顯微鏡（SEM）有什麼不同？本文詳細解紹場發射電子顯微鏡的不同燈絲源，並詳述熱場發射電子顯微鏡跟冷場發射電子顯微鏡的差別，勀傑科技還代理了桌上型場發射電子顯微鏡。FE-SEM不再如同以往那般遙不可及了喔！
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