應用專欄

sc11-solution

電子顯微鏡環境干擾因素的探討與解決方案

SEM、TEM電子顯微鏡是現今微米、奈米科技研發與檢驗的重要工具,用來觀測微結構的表面形貌和物質的元素組成,然而環境周圍的電磁干擾、震動、噪音也會對電子顯微鏡的性能造成影響,如何有效量測並分析環境具有哪些干擾因子並將干擾程度數據化,以幫助研究員選擇對應的解決方案,成為了現代科學中一門重要的課題…

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粒徑分析一篇就懂

粒徑分析一篇就懂!你適合哪種粒徑分析儀器量測?

什麼是粒徑分析?為什麼需要粒徑分析?粒徑分析儀器的選擇取決於應用目的,除了微米級和奈米級分析方式有所差別外,各設備的優缺點也不同。若是需要量測顆粒尺寸、顆粒數量及分佈資訊,還要同時掌握顆粒表面形貌和結構,那麼電子顯微鏡就必須納入考量!

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