
如何使用掃描式電子顯微鏡(SEM)進行EDX元素分析
掃描式電子顯微鏡(SEM)使用電子束從納米尺度的樣品中獲取資訊。檢測到的主要信號類型是背散射電子(BSE)和二次電子(SE),它們在高倍率下生成樣品的灰度圖像…
掃描式電子顯微鏡(SEM)使用電子束從納米尺度的樣品中獲取資訊。檢測到的主要信號類型是背散射電子(BSE)和二次電子(SE),它們在高倍率下生成樣品的灰度圖像…
多年來,掃描式電子顯微鏡(SEM)已成為品質管理的重要工具。 許多行業用SEM來分析在微觀層面上的缺點和雜質,他們可以藉由分析結果來調整生產過程,以確保每種產品在製造上都能符合相同的高品質標準…
自石油成為工業的基礎原料以來,全世界許多的科學家、工程師紛紛投入越來越多的研究,將不同的有機分子以某些方式結合以獲得新一代的的材料…
June Almeida是發現第一個人類冠狀病毒的女人,她是蘇格蘭公交車司機的女兒,並於16歲時離開學校。June Almeida持續在這路上耕耘並成為了病毒影像的先驅,而在當前COVID-19大流行期間,她的工作又重新引起人們的關注…
我們的原廠ThermoFisher Scientific 成立的宗旨為: 「Our Mission is to enable our customers to make the world healthier, cleaner and safer.」這一次遭遇到COVID-19的疫情,讓我們重新體認到這一使命的重要性…
2023年半導體雖然面臨後疫情時代的市場挑戰,先進製程微縮仍是半導體製造業的發展趨勢,其中電子束微影(Electron Beam Lithography,簡稱EBL)更是具潛力發展的技術之一,其應用範圍包含:微小電子元件、生物芯片、光學元件、量子器件、奈米結構材料、微型機械結構等領域。因此,如何在複雜技術中提高良率以降低成本,解決電磁干擾等環境問題至關重要。
隨著微電子元件、微控制器時代來臨,半導體製程需要更高倍率的成像品質。然而,來自於外部環境如EMI等眾多干擾容易影響解析度,要釐清是否為設備故障問題往往需要耗費大量時間成本。
您也有電磁干擾問題需要解決嗎?眾多消磁器中不知哪一款最適合?Spicer Consulting提供一系列主動式消磁器選擇指引,依不同產業應用層面及場地客製化解決磁場干擾問題。
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