應用專欄

PCB切片分析的重要性：微時代提升電路板產業競爭力的關鍵

2024-02-02

在 5G 時代，我們的生活與科技息息相關，電子產品的好壞直接關係到我們日常的便利與體驗品質，而電子產品中的關鍵角色——印刷電路板（PCB）的重要性更日益增加。本文將介紹 PCB 產業的現況與 PCB 切片分析技術操作原理，一同揭開它的神秘面紗。

微加工的顆粒分析：找出陶瓷製程出現煙碳微粒的原因

2024-01-22

德國高精度機械銑床製造商 KERN Microtechnik 透過瞭解煙碳微粒進入陶瓷加工過程的原因和方式，協助其客戶降低製造成本。這些微粒可能會降低陶瓷加工的速度和精準度，最終損壞成品。

提升鋰電池研究優勢：與氬氣相容的桌上型掃描式電子顯微鏡Phenom XL G2

2024-01-02

鋰離子電池在越來越多的應用領域廣泛使用，鋰電池材料分析的主要挑戰在於它們在空氣中非常易起反應。Phenom XL G2氬氣兼容桌上型掃描式電子顯微鏡採用專門技術，是唯一能夠完全放置在充滿氬氣手套箱內的掃描式電子顯微鏡，讓您能夠對對空氣敏感的鋰電池樣品進行研究。

TEM grid載網規格與用途簡介

2023-12-05

穿透式電子顯微鏡(TEM)中使用的載網(grid，支撐網，或以常用規格鍍碳銅網代稱)，為特殊結構，非常薄，通常在10到100奈米之間，主要用於支撐樣品，使電子能穿透樣品，並幫助樣品定位，同時減少不需要的背景信號。載網有多種圖案和材質可供選擇，其上也可加上不同薄膜/塗層，以適合各種應用。

場發射顯微鏡是什麼？不可不知的新一代奈米技術研究新寵兒！

2023-12-01

什麼是場發射電子顯微鏡（FE-SEM）？FE-SEM跟傳統掃描式電子顯微鏡（SEM）有什麼不同？本文詳細解紹場發射電子顯微鏡的不同燈絲源，並詳述熱場發射電子顯微鏡跟冷場發射電子顯微鏡的差別，勀傑科技還代理了桌上型場發射電子顯微鏡。FE-SEM不再如同以往那般遙不可及了喔！

磁場測試、震動測量、分貝檢測等儀器如何選？科技大廠選擇Spicer智能檢測儀的原因

2024-06-28

智能檢測儀SC11、SC28挾帶其優勢已成為國內外科技大廠所使用，用於測量包含CD-SEM、EBL或其它半導體設備的環境參數以確保符合規定。多功能整合的智能軟體滿足：磁場強度測試、震動三軸測量、聲音分貝檢測，當下即可看測量的參數變化。

掃描穿透式電子顯微鏡(STEM)的技術及應用

2024-06-14

掃描穿透式電子顯微鏡STEM 技術是在 TEM 的基礎上發展而來，可在保持高透射解析度的同時掃描樣品表面，以提供更多的表面和成分資訊。在材料科學上依靠不同的影像模式，研究者可以對微結構和元素分佈進行更為精確的描述。在生命科學領域，如組織病理學的研究，能利用低電壓來避免對樣品的損傷。Phenom 將 STEM 技術結合到了桌上型電子顯微鏡中應用，為使用相關技術的科研人員提供強大支持工具。