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【新品上市】AFM-in-Phenom XL 原子力掃描電鏡一體機:開啟「臨場多模態關聯分析」的奈米量測革命!

革命性技術!AFM-in-Phenom XL桌上型原子力掃描電鏡一體機,無縫整合SEM、EDS與AFM,實現真空環境下的「同區、同步」臨場關聯分析。專為半導體失效分析、鋰電池電導特性與先進材料量測而設計,排除空氣暴露誤差,提升表面粗糙度、微區電磁性與三維形貌檢測效率。

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