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臨場電鏡分析設備

Baiyun 4M

白雲4M相機——透射電鏡CMOS相機

具備 2K×2K 解析度與 40 FPS 全片幅高速成像 。
主打高性能 CMOS 偵測器、高幀率與模組化升級設計,非常適合日常實驗、動態臨場成像與大視野觀測。
Baiyun 16M

白雲16M相機——透射電鏡CMOS相機

具備 1600 萬超大視野高清成像、90 FPS 高速採集與獨立 AI 工作站。
主打高性能 CMOS 偵測器、高幀率與模組化升級設計,非常適合日常實驗、動態臨場成像與大視野觀測。
Huangshan 1C-S

黃山1C-S相機——SEM平台 4D-STEM 相機

全面適配SEM平台。256×256像素(像素尺寸55μm),支援Frame或Event雙讀出模式。
基於 Timepix3 晶片,採用尖端的事件驅動(Event-driven)架構,主打零讀出雜訊、1.56 ns 超高時間解析度(等效幀率 > 1,000,000 fps),是前瞻低電壓、低劑量電流敏感材料研究的革命性突破。
Huangshan 1C-T

黃山1C-T相機——4D-STEM/Ptychography相機

適配TEM平台。256×256像素,最小駐留時間0.2μs,針對60kV進行優化(DQE≥0.9),穩定支援5-300kV。
基於 Timepix3 晶片,採用尖端的事件驅動(Event-driven)架構,主打零讀出雜訊、1.56 ns 超高時間解析度(等效幀率 > 1,000,000 fps),是前瞻低電壓、低劑量電流敏感材料研究的革命性突破。
fib-t

多功能模組介接樣品桿 Cartridge Linkage System Holder

可樣品方便快速的從FIB轉換至TEM機台,安全轉換不破損、可保留再觀測以及提前預備好觀測樣品等特色
單雙

雙傾真空傳輸樣品桿 Double tilt Vacuum Transfer Holder

EDS分析模組傾斜角度調整單位精密至0.01度,可使樣品保持在真空環境
EBSD原位加熱樣品台 EBSD Heating Stage_1

臨場升溫EBSD載台 EBSD Heating Stage 1000℃

可觀測樣品在加熱的當下狀態,最高可在1000℃高溫下實驗,精準的溫度控制器,誤差值攝氏±0.05℃
SEM原位拉伸:加熱樣品台 In-situ Tensile Stage 1500N_1

臨場拉伸EBSD載台 In-situ Tensile SEM Stage 1500N

高功率原位拉伸功能,最大拉伸力為1500N,可選配加熱功能,加熱最高500℃ ,可預先設定傾斜角度(預設為20°)
晶片式製冷低溫載台

晶片式致冷低溫載台 Peltier Cooling Stage 100

可冷卻至 -100°C,溫度控制穩定度小於 ±0.005°C,微型尺寸φ42 mm
MEMSホルダー カタログ用

雙傾晶片式電/熱場真空傳輸冷凍樣品桿 ELECRYO/Double tilt 4 Electrodes Transfer Cryo Holder

局部控溫技術:同步液氮冷卻與高溫加熱,具有真空傳輸能力,專利漂移補償系統
雙傾斜磁場樣品桿

臨場高磁場樣品桿 High Power Magnetic Field Holder

大功率磁場 / 最大197mT,臨場觀測可用功率45mT
單雙傾冷凍真空傳輸樣品桿_Double tilt LN2 Atmos Defend Holder-透明

雙傾液氮真空傳輸樣品桿 Double tilt LN2 Vacuum Transfer Holder

可液氮冷卻至-160°C / 雙傾斜±20° / 真空傳輸功能,溫度控制系統可控溫達到±0.005°C
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