黃山1C-S相機——SEM平台 4D-STEM 相機

【黃山1C-S相機（SEM平台專用）】
跨界融合：SEM巨觀掌控力× 4D-STEM亞埃級解析力

基於 Timepix3 晶片研發的黃山系列電子探測相機，現已全面適配掃描電子顯微鏡（SEM）平台，為低加速電壓下的微觀表徵帶來革命性突破！

不同於傳統的感測器（Frame-based），黃山 1C-S 相機採用尖端的事件驅動（Event-driven）架構。它具備零讀出雜訊與高達 1.56 ns 的極致時間解析度，能精準記錄每一個電子撞擊的空間座標與時間戳記（Timestamp），讓您的科研數據徹底告別冗餘。

在 SEM 平台上，黃山相機充分發揮其大視野（奈米至毫米級）與高科學散射截面的優勢，透過在每一個掃描像素點捕捉完整的二維（2D）衍射圖樣，深度挖掘倒易空間（Reciprocal Space）的全方位資訊。即使在 30 kV 的低束流損傷環境下，依然能實現大面積薄膜樣品的高保真應變、電場及晶體取向分析制圖。

結合一體化高速數據處理工作站，黃山相機將 4D-STEM 的亞埃級解析力與 SEM 的宏觀掌控力完美融合，為您的高前沿電子顯微研究提供前所未有的感測靈敏度與實驗效率。

產品特色：

極致速度與靈敏度，等效幀率破百萬

1.56 ns 的超高時間解析度，等效幀率最高可達 1,000,000 fps 以上，搭配 MHz 級同步控制，輕鬆應對超快 4D-STEM 成像。

低劑量高信噪比，保護敏感材料

超低駐留時間（200-1000 ns）與高靈敏度探測，非常適合用於生物、聚合物等對電子束敏感材料的精準成像。

雙讀出模式，彈性切換

支持「事件驅動」與「幀模式」雙重讀出。切換至事件驅動模式即可享受零讀出雜訊；幀模式則能提供寬動態範圍成像。

高相容性與一體化服務

配套 GS4D 專業操控軟體（全面相容 LiberTEM 與 py4DSTEM 開源生態），並提供專業應用團隊的裝機技術支持與培訓服務。

應用方向

奈米晶取向制圖 (Orientation Mapping)：大面積晶體取向與物相分佈精細分析。

高精度應變分析 (Strain Analysis)：半導體元件及金屬材料局部應變場精確定量。

多模態虛擬成像 (Virtual Imaging)：單次掃描即可重構明場（BF）、暗場（DF）及微分相襯（DPC）等圖像。

電場 / 磁場定量視覺化：分析束流重心偏移（COM），精準產出材料內部局域場強分佈圖。