【黃山1C-T相機（TEM平台專用）】
速度與零雜訊的完美結合，普及4D-STEM與疊層成像
產品品牌：
黃山 1C-T（Timepix3 電子感測器）憑藉其卓越的時間解析度與零讀出雜訊的核心優勢，為透射電子顯微鏡（TEM）應用開創了前所未有的高速成像新紀元。
本系統全面支持單電子感測，時間解析度高達 1.56 ns，特別適用於超高速臨場（In-situ）動態成像、四維掃描透射電子顯微成像（4D-STEM）以及電子疊層繞射成像（Electron Ptychography）。結合先進的數據處理工作站，黃山 1C-T 能實現一體化的極速資料擷取與即時重建，為頂尖的電子顯微學與材料科學研究提供最強大的硬體後盾，加速推動高階 4D-STEM 技術的普及與應用。
產品特色：
1.56 ns 極致時間解析度
專為 4D-STEM 打造，等效張數最高可達 1,000,000 fps 以上，精準捕捉材料結構在臨場（In-situ）實驗中的瞬間動態演化。
零讀出雜訊與超低劑量成像
切換至「事件驅動模式」時僅輸出電子訊號，完全排除傳統相機的底噪雜訊。非常適合生醫分子、易損晶格等對電子束極度敏感的樣品。
靈活安裝與完美相容性
採用可伸縮式機構設計，支援電鏡底部（Bottom-mount）安裝，並可與 CEOS CEFID 能量過濾器完美整合。
繁體中文 GS4D 專業控制軟體
支援實時虛擬成像（Virtual Imaging）、iDPC 與 iCoM 等高階模式。資料可直接儲存為 .h5 或 .npy 等開放格式，並全面相容 LiberTEM 與 py4DSTEM 分析生態圈。
應用方向
先進半導體與奈米材料： 超高速、高結構解析度的微結構與應變分析（Strain Mapping）。
束流敏感材料（Beam-sensitive materials）： MOF、Zeolite（沸石）的亞埃級（Sub-Å）原子解析度 Ptychography 重建。
臨場動態成像： 即時觀測樣品在電場、熱場或光照下的暫態行為。
