勀傑科技團隊 編著
隨著半導體製程邁入奈米與埃米（Angstrom）世代，先進材料分析與微結構檢測技術正面臨前所未有的精密度挑戰。馬來西亞國家應用研究發展中心（MIMOS Berhad）近期正式啟用該國首台 Thermo Scientific Spectra 300 S/TEM，標誌著區域前沿半導體研發與失效分析（Failure Analysis, FA）技術的重大里程碑。
在這項極致精準的尖端設備背後，勀傑科技提供的 Spicer SC24 主動式磁場消除系統 扮演了不可或缺的防護關鍵，成功抵消環境電磁干擾（EMI），確保該台頂級電鏡能展現最高規格的原子級成像效能。
原文連結：< A First for Malaysia: Atomic-Scale Imaging Arrives at MIMOS >
一、 尖端電鏡的隱形殺手：環境低頻磁場干擾（EMI）
在透射電子顯微鏡（TEM / STEM）運作過程中，高能量電子束的偏折極度敏感。即使是遠處電力設施、變壓器、電梯運作、周邊高功率設備或車輛行駛所產生的環境低頻磁場波動，都會直接造成電子束偏移。
當儀器解析度要求達到「原子級（Atomic Scale）」時，極微小的磁場變化（哪怕僅有幾十 nT）就會造成：
- 影像模糊與鋸齒狀抖動：無法清晰觀測原子排列、晶格缺陷或介面結構。
- 分析數據失真：影響微區化學元素分析（EDS / EELS）的準確性。
- 儀器效能受限：無法發揮 S/TEM 應有的極限解析能力。
二、 Spicer SC24 如何打造極致穩定的磁場環境？
為了讓 Spectra 300 S/TEM 在進駐 MIMOS 後能在最佳狀態下運行，ITS Malaysia（Interscience Sdn Bhd）與賽默飛世爾科技（Thermo Fisher Scientific）在規劃初期即導入了 Spicer SC24 主動式磁場消除系統。
💡 Spicer SC24 核心技術與運作機制：
- 高感度磁場感測器：即時量測與捕捉場域內 X、Y、Z 三軸的微弱磁場變化。
- 高科技控制核心與放大器：毫秒級計算出反向補償訊號。
- 主動補償線圈：產生大小相等、方向相反的抵消磁場，將目標區域內的干擾動態降至最低。
透過 Spicer SC24 的即時動態補償，能有效將環境低頻交流（AC）與直流（DC）磁場干擾大幅衰減，為高端電鏡建立一座「隱形的電磁防護罩」。
三、 深耕海外市場，提供緊密且專業的諮詢合作
本次 MIMOS 的成功安裝，展現了專業諮詢與團隊合作的價值。從前期環境磁場量測、場址評估規劃，到最終 Spicer SC24 的現場安裝與調校，我們與在地合作夥伴緊密配合，深度理解研究人員的實際科學需求，而不僅僅是滿足規格表上的數字。
MIMOS 在系統上線後特別舉辦了技術研討會，向國內學術與產業研究社群展示其卓越的成像能量。這不僅證實了 Spicer SC24 在國際市場的暢銷與國際高度認可，更凸顯了優質磁場環境控制對於先進材料生態系的重要性。
四、 精密儀器遭遇磁場干擾？勀傑科技提供一站式完整解決方案
您的實驗室或產線也遇到以下困擾嗎？
- 電子顯微鏡（TEM / SEM / FIB）影像出現條紋、抖動或失真？
- 廠區鄰近變壓器、電梯、捷運或高壓電纜，擔心影響檢測品質？
- 新建廠房或實驗室準備引進高階半導體檢測與製程設備？
勀傑科技作為英國品牌Spicer Consulting在亞太地區的唯一指定代理商，不論是半導體晶圓廠、學術法人研究中心，或是第三方檢測分析實驗室，我們提供從現場環境磁場量測評估、場址規劃、到 Spicer 主動式消磁系統部署與維護的完整服務。
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