勀傑科技團隊 /著
在過去，若要對材料進行奈米級的多維度分析，研發與檢測人員必須在掃描電子顯微鏡（SEM）與原子力顯微鏡（AFM）兩台獨立的設備之間疲於奔命。這不僅耗費極高的定位時間，更面臨樣品在空氣轉移中氧化、受潮或污染的失真風險。
為解決高階檢測的核心痛點，勀傑科技隆重引進由 Thermo Fisher Scientific 與 NenoVision（LiteScope 臨場分析專利技術） 強強聯手推出的革命性技術——AFM-in-Phenom XL 原子力掃描電鏡一體機。此設備專為桌上型 Phenom XL 設計，讓您的實驗室直接升級為「真空、臨場、一體化」的頂級表面物理與微觀化學特性分析中心！
為什麼選擇 AFM-in-Phenom XL？三大核心技術優勢剖析
桌上型、高時效、高經濟性（Compact, Fast & Cost-effective）
- 極致節省空間： 採用一體化桌上型外觀設計，擺脫傳統落地式大型設備昂貴的環境安裝限制，釋放寶貴的實驗室與廠房空間。
- 極速進樣與自動化： 極致縮短樣品抽真空與對位流程。結合直覺的控制介面，可大幅提升日常檢測效率，滿足高頻率的品質管制（QC）與產品失效分析（FA）需求。
臨場關聯分析（In-situ Correlative Analysis）：零空氣暴露風險
- 「同區、同步」真空量測： 無須移動樣品，直接在同一個高真空或低真空腔體內，一次獲取同區的 SEM、EDS 、AFM 表面訊號。
- 完美對位： 精準鎖定奈米級的微小特徵，杜絕了離線分析在重新載入時所造成的對位誤差與死角。
- 保護活性樣品： 特別適合對空氣極度敏感的先進材料（如鋰電池活性材料、有機半導體），全程免受外界環境干擾。
多模態協同表徵（Multimodal Characterization）
透過單一分析平台，技術人員能自由交叉比對下列多種維度之特徵：
- 微區化學成分： 高速 SEM 顯微形貌與 EDS 能譜元素分析。
- 三維精確形貌： AFM 高解析度表面粗糙度。
- 臨場物理量測： 支持量測微區的機械性質、局部導電度（C-AFM）、功函數（KPFM）、磁性分佈（MFM）、壓電性（PFM）等。
【多層關聯圖解】直觀解讀多維度物理與化學資訊
利用 AFM-in-Phenom XL 的臨場分析技術，我們能夠在奈米級別上層層剝離、解析樣品的特性，如下圖般建立完整的空間對應：
- Topo Layer（三維表面形貌層）： 獲取亞奈米級的三維精確起伏與表面粗糙度數據。
- SEM Layer（電子顯微形貌層）： 二次電子（SE）與背散射電子（BSE）提供清晰的晶粒邊界與表面孔隙分布。
- C-AFM Layer（導電特徵層）： 釐清材料表面的局部導電通路與阻抗分布。
- EDS Layer（能譜元素分析層）： 結合能譜（如：正極活性物質鎳、電解質硫等），將化學元素分佈與導電性能、形貌精準重疊對比。
四大關鍵應用領域，全面賦能研發與品檢
💡 半導體失效分析（Semiconductor FA）
在先進封裝製程與微晶片研發中，本設備可用於亞微米級缺陷的快速定位，並透過 C-AFM / KPFM 臨場量測微區電性特徵，迅速釐清失效機制。
🔋 鋰電池與儲能材料（Battery Materials）
針對正極活性材料（CAM），可在排除大氣干擾的真空狀態下，對活性顆粒進行三維形貌觀測，並精確量測鋰離子電導率（C-AFM）在循環充放電過程中的劣化演化。
🔩 先進鋼鐵與金屬分析（Steel & Metal Analysis）
提供雙相鋼（Duplex Steel）等複雜合金的微觀相別區分（如肥粒鐵 Ferrite 與奧斯田鐵 Austenite），並用於微區孔蝕、應力腐蝕與材料斷面之失效分析。
💊 顆粒與薄膜塗層（Particle & Coating Analysis）
精確評估製藥粉體、陶瓷顆粒與奈米薄膜塗層的粒徑分佈、三維粗糙度、微區局部硬度與彈性模數。
勀傑科技，您最信賴的微觀分析技術夥伴
AFM-in-Phenom XL 一體機正式由勀傑科技代理登台！我們擁有台灣地區最專業的科技售後技術團隊與應用工程師，能針對半導體、綠能與學術機構之專案，提供量身定制的客製化檢測解決方案與實機示範（Demo）。
如果您對於AFM-in-Phenom XL主題有興趣
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